Scale effects in freestanding thin metal films for RF MEMS applications

  • Zlata Jelacic

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 2005
Originele taalEngels
BegeleiderMarc G.D. Geers (Afstudeerdocent 1), Jaap M.J. den Toonder (Afstudeerdocent 2) & W.A.M. Brekelmans (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

'