Electrical characterization of plasma beam deposited amorphous hydrogenated silicon

  • H.J.M. Verhoeven

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 1995
Originele taalEngels
BegeleiderR.J. Severens (Afstudeerdocent 1), M.C.M. (Richard) van de Sanden (Afstudeerdocent 2) & Daan C. Schram (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

'