Een instrument voor het meten van de potentiaalverdeling op het oppervlak van een halfgeleider bij 77 K met een tijdresolutie van 1 ns

  • W.C. de Zeeuw

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 1976
Originele taalNederlands
BegeleiderR.G. van Welzenis (Afstudeerdocent 1) & C.A.A.J. Greebe (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

Documenten

  • 313002

    Bestand: application/pdf, 15,2 MB

    Type: Scriptie

'