Datum prijs | 30 apr. 1998 |
---|---|
Originele taal | Engels |
Begeleider | Gijs J. de Raad (Afstudeerdocent 1), Paul M. Koenraad (Afstudeerdocent 2) & J.H. Wolter (Afstudeerdocent 2) |
Cross-sectional STM on GaAs : tip preparation, tip characterisation, imaging of the (110) surface and dopant distribution
Scriptie/Masterproef: Master