Cross-sectional STM on GaAs : tip preparation, tip characterisation, imaging of the (110) surface and dopant distribution

  • Emile Martens

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs30 apr. 1998
Originele taalEngels
BegeleiderGijs J. de Raad (Afstudeerdocent 1), Paul M. Koenraad (Afstudeerdocent 2) & J.H. Wolter (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

Documenten

  • full text

    Bestand: application/pdf, 17,1 MB

    Type: Scriptie

'