Cross-sectional STM on GaAs : tip preparation, tip characterisation, imaging of the (110) surface and dopant distribution

  • Emile Martens

Scriptie/Masterproef: Master

Samenvatting

Datum prijs30 apr 1998
Originele taalEngels
BegeleiderGijs J. de Raad (Afstudeerdocent 1), Paul M. Koenraad (Afstudeerdocent 2) & J.H. Wolter (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

'