Correlations of noise in optical devices : metingen en modellering van correlaties tussen elektrische en optische grootheden van optische devices en implementatie van meetmethoden voor metingen van lage ruisniveaus

  • E.G. van Dijke

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs30 apr. 1993
Originele taalNederlands
BegeleiderT.G.M. Kleinpenning (Afstudeerdocent 1)

Citeer dit

'