Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Controlling the lateral distribution of thickness during deposition of thin films with sub nanometer precision

  • M.J.H. Kessels

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 2001
Originele taalEngels
BegeleiderM.J. van der Wiel (Afstudeerdocent 1), Fred Bijkerk (Externe coach), O.J. (Jom) Luiten (Afstudeerdocent 2), Leo J. van IJzendoorn (Afstudeerdocent 2) & Paul M. Koenraad (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

'