Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Characterization of implantation damage caused by low energy (0.1-10keV) implantation of 11B

  • M.A.J. Heijdra

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 jul. 1997
Originele taalEngels
BegeleiderM.J.A. de Voigt (Afstudeerdocent 1), Yde Tamminga (Externe coach), Leo J. van IJzendoorn (Afstudeerdocent 2), R.G. van Welzenis (Afstudeerdocent 2) & Peter H.A. Mutsaers (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

Documenten

  • full text

    Bestand: application/pdf, 3,37 MB

    Type: Scriptie

'