Characterization of freestanding thin film properties for RF-MEMS

  • V. Burg

Scriptie/masterproef: Master

Uittreksel

Datum Prijs30 jun 2006
TaalEngels
BegeleiderJaap M.J. den Toonder (Afstudeerdocent 1), Auke R. van Dijken (Externe coach), Johan P.M. Hoefnagels (Afstudeerdocent 2) & Marc G.D. Geers (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

Characterization of freestanding thin film properties for RF-MEMS
Burg, V. (Auteur). 30 jun 2006

Scriptie/masterproef: Master