Characterization of freestanding thin film properties for RF-MEMS

  • V. Burg

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs30 jun. 2006
Originele taalEngels
BegeleiderJaap M.J. den Toonder (Afstudeerdocent 1), Auke R. van Dijken (Externe coach), Johan P.M. Hoefnagels (Afstudeerdocent 2) & Marc G.D. Geers (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

'