Characterization and modeling of interfacial adhesion for semiconductor applications covering the full range of mode mixity

  • J. Thijsse

Scriptie/masterproef: Master

Uittreksel

Datum Prijs30 jun 2006
TaalEngels
BegeleiderMarc G.D. Geers (Afstudeerdocent 1), J.A.W. (Hans) van Dommelen (Afstudeerdocent 2), C.C.M. Luijten (Afstudeerdocent 2), Johan P.M. Hoefnagels (Afstudeerdocent 2), Olaf van der Sluis (Externe coach) & W.D. van Driel (Externe coach)

Citeer dit

Characterization and modeling of interfacial adhesion for semiconductor applications covering the full range of mode mixity
Thijsse, J. (Auteur). 30 jun 2006

Scriptie/masterproef: Master