Characterization and applicability of a one-dimensional position sensitive semiconductor particle detector in ion beam experiments

  • Fulco Verheul

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 1996
Originele taalEngels
BegeleiderM.J.A. de Voigt (Afstudeerdocent 1), Peter H.A. Mutsaers (Afstudeerdocent 2), J.A. van der Heide (Afstudeerdocent 2), Andre M. Duif (Afstudeerdocent 2) & D.P.L. Simons (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

'