Characterisation of interfacial strength of low-k dielectric materials used in ICs

  • M.H.M. Kouters

Scriptie/masterproef: Master

Uittreksel

Datum Prijs31 aug 2006
TaalEngels
BegeleiderMarc G.D. Geers (Afstudeerdocent 1), Jaap M.J. den Toonder (Afstudeerdocent 2), Ron H.J. Peerlings (Afstudeerdocent 2), B.A.E. van Hal (Afstudeerdocent 2) & R.B.R. van Silfhout (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

Characterisation of interfacial strength of low-k dielectric materials used in ICs
Kouters, M. H. M. (Auteur). 31 aug 2006

Scriptie/masterproef: Master