Characterisation of interfacial strength of low-k dielectric materials used in ICs

  • M.H.M. Kouters

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 2006
Originele taalEngels
BegeleiderMarc G.D. Geers (Afstudeerdocent 1), Jaap M.J. den Toonder (Afstudeerdocent 2), Ron H.J. Peerlings (Afstudeerdocent 2), B.A.E. van Hal (Afstudeerdocent 2) & R.B.R. van Silfhout (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

Documenten

  • 615010

    Bestand: application/pdf, 15,3 MB

    Type: Scriptie

'