Automatic generation of in-circuit tests on Prodrive's AET system for board assembly defects

  • H.A.H. van Schaaijk

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 2017
Originele taalEngels
BegeleiderB. Mesman (Afstudeerdocent 1), Erik Jan Marinissen (Afstudeerdocent 2), Alex Alvarado (Afstudeerdocent 2) & Martien G.M. Spierings (Externe coach)

Citeer dit

'