Automatic Edge-detection and Grouping of Possibly Overlapping Components in SEM images of Silicon Wafers

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs26 jun. 2024
Originele taalEngels
BegeleiderRemco Duits (Afstudeerdocent 1), Nicky J. van den Berg (Afstudeerdocent 2) & Maxim Pisarenco (Externe coach)

Citeer dit

'