A new method to measure wall shear stresses with speckle pattern interferometry

  • A.M. Goijaerts

Scriptie/Masterproef: Master

Datum prijs31 aug. 1995
Originele taalEngels
BegeleiderFrans N. van de Vosse (Afstudeerdocent 1), F.J.H. Gijsen (Afstudeerdocent 2) & Jan D. Janssen (Afstudeerdocent 2)

Citeer dit

Documenten

  • full text

    Bestand: application/pdf, 3,11 MB

    Type: Scriptie

'