Zero defect: mission impossible?

E.J. Marinissen, S.K. Goel

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureHoofdstukAcademic

Originele taal-2Engels
Titel2006 IEEE International Test Conference
Plaats van productiePiscataway
UitgeverijInstitute of Electrical and Electronics Engineers
Pagina's1071-1071
ISBN van geprinte versie978-1-4244-0291-5
StatusGepubliceerd - 2006
Extern gepubliceerdJa
Evenement2006 IEEE International Test Conference (ITC 2006) - Santa Clara Convention Center, Santa Clara, Verenigde Staten van Amerika
Duur: 22 okt 200627 okt 2006

Congres

Congres2006 IEEE International Test Conference (ITC 2006)
Verkorte titelITC 2006
Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
StadSanta Clara
Periode22/10/0627/10/06

Citeer dit