Yield modeling for deep sub-micron IC design

P. Simon

    Onderzoeksoutput: ScriptieDissertatie 2 (Onderzoek NIET TU/e / Promotie TU/e)

    839 Downloads (Pure)
    Originele taal-2Engels
    KwalificatieDoctor in de Filosofie
    Toekennende instantie
    • Electrical Engineering
    Begeleider(s)/adviseur
    • Segers, M.T.M., Promotor
    • Maly, W., Promotor, Externe Persoon
    Datum van toekenning20 dec 2001
    Plaats van publicatieNijmegen
    Uitgever
    Gedrukte ISBN's90-75341-28-8
    DOI's
    StatusGepubliceerd - 2001

    Bibliografische nota

    Proefschrift Technische Universiteit Eindhoven

    Citeer dit