X-ray diffraction from quantum wires and quantum dots

Y. Zhuang, J. Stangl, A.A. Darhuber, G. Bauer, P. Mikulik, V. Holy, N. Darowski, U. Pietsch

    Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

    3 Citaten (Scopus)


    From the distribution of the scattered intensity in reciprocal space, information on the shape as well as on the strain distribution in nanostructured samples can be obtained. This is exemplified by applying this method to laterally patterned periodic Si/SiGe superlattices as well as to periodic SiGe dot arrays embedded in Si.
    Originele taal-2Engels
    Pagina's (van-tot)215-221
    Aantal pagina's7
    TijdschriftJournal of Materials Science: Materials in Electronics
    Nummer van het tijdschrift3
    StatusGepubliceerd - 1999


    Duik in de onderzoeksthema's van 'X-ray diffraction from quantum wires and quantum dots'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

    Citeer dit