Wavelength stability of He-Ne lasers used in interferometry : limitations and traceability

J. Koning, P.H.J. Schellekens, P.A. McKeown

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

5 Citaten (Scopus)
31 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)307-310
TijdschriftCIRP Annals : Manufacturing Technology
Volume28
Nummer van het tijdschrift1
StatusGepubliceerd - 1979

Citeer dit