Using gate sizing to reduce glitch power

E.T.A.F. Jacobs

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. ProRISC/IEEE-Benelux Workshop on Circuits, Systems and Signal Processing
RedacteurenJ.P. Veen
Plaats van productieUtrecht, Netherlands
UitgeverijSTW Technology Foundation
Pagina's183-188
ISBN van geprinte versie90-73461-09-X
StatusGepubliceerd - 1996
Evenement1996 ProRISC/IEEE-Benelux Workshop on Circuits, Systems and Signal Processing - Mierlo
Duur: 1 jan. 199628 nov. 1996

Congres

Congres1996 ProRISC/IEEE-Benelux Workshop on Circuits, Systems and Signal Processing
Verkorte titelProRISC/IEEE 1996
StadMierlo
Periode1/01/9628/11/96
AnderProc. ProRISC/IEEE-Benelux Workshop on Circuits, Systems and Signal Processing, Mierlo, Netherlands, 27-28 November 1996

Citeer dit