Use of error criteria in identification for control

Y. Zhu

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. SYSID 2000 IFAC Symp. on System Identification
Plaats van productieSanta Barbara, California, USA
StatusGepubliceerd - 2000
Evenement12th IFAC Symposium on System Identification (SYSID 2000) - Santa Barbara, Verenigde Staten van Amerika
Duur: 21 jun. 200023 jun. 2000
Congresnummer: 12

Congres

Congres12th IFAC Symposium on System Identification (SYSID 2000)
Verkorte titelSYSID 2000
Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
StadSanta Barbara
Periode21/06/0023/06/00
AnderSYSID 2000 IFAC Symp. on System Identification

Citeer dit