Use of error criteria in identification for control

Y. Zhu

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. SYSID 2000 IFAC Symp. on System Identification
Plaats van productieSanta Barbara, California, USA
StatusGepubliceerd - 2000
Evenement12th IFAC Symposium on System Identification (SYSID 2000) - Santa Barbara, Verenigde Staten van Amerika
Duur: 21 jun 2000 → 23 jun 2000
Congresnummer: 12

Congres

Congres12th IFAC Symposium on System Identification (SYSID 2000)
Verkorte titelSYSID 2000
LandVerenigde Staten van Amerika
StadSanta Barbara
Periode21/06/00 → 23/06/00
AnderSYSID 2000 IFAC Symp. on System Identification

Citeer dit

Zhu, Y. (2000). Use of error criteria in identification for control. In Proc. SYSID 2000 IFAC Symp. on System Identification Santa Barbara, California, USA.