Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Two-dimensional inverse profiling: nonlinear optimization and embedding (invited)

  • A.G. Tijhuis
  • , K. Belkebir
  • , A.C.S. Litman
  • , J.M. Geffrin
  • , J.Ch. Bolomey

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureHoofdstukAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelAdvanced Pattern Recognition Techniques, RTO Lecture Series 214
Plaats van productieNeuilly-sur-Seine, France
UitgeverijNATO
Pagina's6.1-6.3
ISBN van geprinte versie92-837-1001-0
StatusGepubliceerd - 1998

Citeer dit