Tunneling spectroscopy at nanometer scale in MBE-grown (Al)GaAs multilayers

O. Albrektsen, P.M. Koenraad, H.W.M. Salemink

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

2 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelPhysical concepts of materials for novel optoelectronic device applications I (1990)
UitgeverijSPIE
Pagina's338-342
DOI's
StatusGepubliceerd - 1991

Publicatie series

NaamProceedings of SPIE
Volume1361
ISSN van geprinte versie0277-786X

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Tunneling spectroscopy at nanometer scale in MBE-grown (Al)GaAs multilayers'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit