Traceability of CMM measurements

B.W.J.J.A. Dorp, van, F.L.M. Delbressine, H. Haitjema, P.H.J. Schellekens

    Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

    Originele taal-2Engels
    TitelProceedings of the 14th annual meeting of the American Society of Precision Engineering : October 31 - November 5, 1999, Monterey, California
    Plaats van productieRaleigh
    UitgeverijAmerican Society of Precision Engineering (ASPE)
    Pagina's329-331
    ISBN van geprinte versie1-88770-622-4
    StatusGepubliceerd - 1999

    Citeer dit