The testing maturity model

E.P.W.M. Veenendaal, van, R. Swinkels

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelProfessioneel

Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)8-12
TijdschriftProfessional Tester
Volume3
Nummer van het tijdschrift1
StatusGepubliceerd - 2002

Citeer dit