Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

The pn-Junction as an inductive design component in silicon IC processes

  • G.A.M. Hurkx
  • , P.G.M. Baltus
  • , J.A.M. de Boet
  • , J.A.M. Geelen
  • , J.J.E.M. Hageraats

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Samenvatting

pn-Junctions in IC processes are investigated for the use as an inductive design component. Measurements of inductance, quality factor and noise under avalanche breakdown conditions are compared to device simulations and the theory for IMPATT diodes. Inhomogeneous breakdown is also investigated.

Originele taal-2Engels
TitelProceedings of Bipolar/Bicmos Circuits and Technology Meeting
UitgeverijInstitute of Electrical and Electronics Engineers
Pagina's125-128
Aantal pagina's4
ISBN van geprinte versie0-7803-2778-0
DOI's
StatusGepubliceerd - 6 aug. 2020
Extern gepubliceerdJa
Evenement1995 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting - Minneapolis, Verenigde Staten van Amerika
Duur: 2 okt. 19953 okt. 1995

Congres

Congres1995 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting
Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
StadMinneapolis
Periode2/10/953/10/95

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'The pn-Junction as an inductive design component in silicon IC processes'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit