The outermost layer of thin films of partially fluorinated polymethacrylates: A Low-Energy Ion Scattering (LEIS) study

R.D. van de Grampel, A.J.H. Maas, W.J.H. Gennip, van, W. Ming, M.J. Krupers, P.C. Thuene, J. Laven, J.W. Niemantsverdriet, H.H. Brongersma, R. Linde, van der

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Originele taal-2Engels
TitelProceedings Fluoropolymers 2000 Conference
Plaats van productieSanannah GA
StatusGepubliceerd - 2000
Evenementconference; Fluoropolymers 2000 Conference; 2000-07-01; 2000-07-01 -
Duur: 1 jul 20001 jul 2000

Congres

Congresconference; Fluoropolymers 2000 Conference; 2000-07-01; 2000-07-01
Periode1/07/001/07/00
AnderFluoropolymers 2000 Conference

Citeer dit

van de Grampel, R. D., Maas, A. J. H., Gennip, van, W. J. H., Ming, W., Krupers, M. J., Thuene, P. C., Laven, J., Niemantsverdriet, J. W., Brongersma, H. H., & Linde, van der, R. (2000). The outermost layer of thin films of partially fluorinated polymethacrylates: A Low-Energy Ion Scattering (LEIS) study. In Proceedings Fluoropolymers 2000 Conference