The influence of inhogeneous carrier-density on the dependence of resistance and noise on gate voltage

L.K.J. Vandamme, Z. Gingl, D. Sodini

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. 3rd ELEN Workshop
Pagina's73-77
StatusGepubliceerd - 1996
Evenement3rd ELEN Workshop - Leuven, België
Duur: 5 nov. 19967 nov. 1996

Congres

Congres3rd ELEN Workshop
Land/RegioBelgië
StadLeuven
Periode5/11/967/11/96

Citeer dit