The Design of an AI Method to Detect Defects on Microchips Using AFM Images

Onderzoeksoutput: Scriptie › EngD Thesis

Originele taal-2	Engels
Begeleider(s)/adviseur	Muntean, Tiberiu, Begeleider van de Laar, Jakob, Externe begeleider Simons, Erik, Externe begeleider, Externe Persoon
Plaats van publicatie	Eindhoven
Uitgever	Technische Universiteit Eindhoven
Status	Gepubliceerd - feb. 2023

EngD thesis. - Confidential.

Citeer dit

@phdthesis{de414f260ded43cb8827e9bf56c72dec,

title = "The Design of an AI Method to Detect Defects on Microchips Using AFM Images",

author = "Elham Khani",

note = "EngD thesis. - Confidential.",

year = "2023",

month = feb,

language = "English",

series = "EngD Thesis",

publisher = "Technische Universiteit Eindhoven",

type = "EngD Thesis",

}