Technology driven flash memory test

J. Pineda de Gyvez, R. Beurze

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review

Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the 7th European Test Workshop, Corfu Greece, May 2002
Pagina's49-54
StatusGepubliceerd - 2002

Citeer dit