Take-off angle dependent x-ray photoelectron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, and scanning electron microscopy for determining the thickness and composition of passivation layers on technical aluminum foils

P.L.J. Gunter, H.J. Borg, J.W. Niemantsverdriet, H.J.H. Rheiter

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

3 Citaten (Scopus)
121 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Take-off angle dependent x-ray photoelectron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, and scanning electron microscopy for determining the thickness and composition of passivation layers on technical aluminum foils'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen

Fysica en Astronomie

Chemische stoffen