Systematic extraction of critical areas from IC layouts

J. Pineda de Gyvez, J.A.G. Jess

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureHoofdstukAcademic

Originele taal-2Engels
TitelDefect and Fault Tolerance in VLSI System. (Volume 3)
RedacteurenC.H. Stapper, V.K. Jain, G. Saucier
Plaats van productieNew York
UitgeverijPlenum Press
StatusGepubliceerd - 1990

Citeer dit