STM Imaging of ordered dopant incorporation in GaAs

P.M. Koenraad, M.B. Johnson, H.W.M. Salemink, J.H. Wolter

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. of the 25th intern. symposium on compound semiconductors
Plaats van productieSan Diego, USA
StatusGepubliceerd - 1997
Evenementconference; 25th Int. Symposium on Compound Semiconductors; 1997-09-08; 1997-09-11 -
Duur: 8 sep 199711 sep 1997

Congres

Congresconference; 25th Int. Symposium on Compound Semiconductors; 1997-09-08; 1997-09-11
Periode8/09/9711/09/97
Ander25th Int. Symposium on Compound Semiconductors

Citeer dit