Some new detection techniques for light ion scattering analysis

M.J.A. Voigt, de, H.A. Rijken, S.S. Klein

    Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureHoofdstukAcademicpeer review

    Originele taal-2Engels
    TitelApplication of particle and laser beams in materials technology
    RedacteurenP. Misaelides
    Plaats van productieDordrecht
    UitgeverijKluwer Academic Publishers
    Pagina's359-374
    ISBN van geprinte versie0-7923-3324-1
    StatusGepubliceerd - 1995

    Publicatie series

    NaamNATO ASI Series : Series E, Applied sciences
    Volume283
    ISSN van geprinte versie1566-7103

    Citeer dit