Silicon surface passivation by hot-wire CVD Si thin films studied in situ surface spectroscopy

W.M.M. Kessels, J.J.H. Gielis, B. Hoex, P.J. Oever, van den, M.C.M. Sanden, van de

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan congresOtherAcademic

183 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Silicon surface passivation by hot-wire CVD Si thin films studied in situ surface spectroscopy'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering

Material Science