Sensitivity-Based Substructure Error Propagation for Efficient Assembly Model Order Reduction

B.M. Kessels, M.L.J. (Thijs) Verhees, Alexander M. Steenhoek, Rob H.B. Fey, Nathan van de Wouw

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Vingerafdruk Duik in de onderzoeksthema's van 'Sensitivity-Based Substructure Error Propagation for Efficient Assembly Model Order Reduction'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen