Semiconductors studied by cross-sectional scanning tunneling microscopy

J.K. Garleff, J.M. Ulloa, P.M. Koenraad

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureHoofdstukAcademic

Samenvatting

No abstract.
Originele taal-2Engels
TitelScanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 2
RedacteurenB. Bhushan
Plaats van productieHeidelberg
UitgeverijSpringer
Pagina's321-353
ISBN van geprinte versie978-3-642-10946-1
DOI's
StatusGepubliceerd - 2011

Vingerafdruk Duik in de onderzoeksthema's van 'Semiconductors studied by cross-sectional scanning tunneling microscopy'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit