Selected quantitative studies of patents in standards

R.N.A. Bekkers, J. Baron, A. Martinelli, Y. Ménière, Z.O. Nomaler, T. Pohlmann

Onderzoeksoutput: Boek/rapportRapportAcademic

207 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Plaats van productieTokyo
UitgeverijHitotsubashi University
Aantal pagina's77
StatusGepubliceerd - 2014

Publicatie series

NaamPIE/CIS Working Paper
Volume626

Citeer dit