RF-distortion in deep-submicron CMOS technologies

R. Van Langevelde, L. F. Tiemeijer, R. J. Havens, M. J. Knitel, R. F.M. Roes, P. H. Woerlee, D. B.M. Klaassen

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

61 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'RF-distortion in deep-submicron CMOS technologies'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Fysica en Astronomie

Engineering en materiaalwetenschappen

Chemische stoffen