Resistance characterization for weak open defects

R.R. Montanes, J. Pineda de Gyvez, P.A.J. Volf

    Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelpeer review

    117 Citaten (Scopus)
    318 Downloads (Pure)

    Samenvatting

    Strong open defects can cause a circuit to malfunction, but even weak open defects can cause it to function poorly. Detecting weak opens is thus an important, but challenging, task. Characterizing weak opens can help researchers assess the need for delay fault tests
    Originele taal-2Engels
    Pagina's (van-tot)18-26
    Aantal pagina's9
    TijdschriftIEEE Design and Test of Computers
    Volume19
    Nummer van het tijdschrift5
    DOI's
    StatusGepubliceerd - 2002

    Vingerafdruk

    Duik in de onderzoeksthema's van 'Resistance characterization for weak open defects'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

    Citeer dit