Reliability modeling for MEMS devices subjected to Multiple dependent competing failure processes

H. Peng, Q. Feng, D.W. Coit

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the 2009 industrial engineering research conference
Plaats van productieMiami
StatusGepubliceerd - 2009
Evenementconference; IERC conference; 2009-05-31; 2009-06-03 -
Duur: 31 mei 20093 jun 2009

Congres

Congresconference; IERC conference; 2009-05-31; 2009-06-03
Periode31/05/093/06/09
AnderIERC conference

Citeer dit