Reactive ion etching of GaN : results and morphology

F. Karouta, P. Vreugdewater, L.M.F. Kaufmann, O. Schön, H. Protzmann, M. Heuken

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. 3rd Annual Symposium of the IEEE/LEOS Benelux Chapter, INTEC, Gent, Belgium, 26 November 1998
Plaats van productieGent
UitgeverijUniversity of Gent
Pagina's169-172
ISBN van geprinte versie90-76546-01-0
StatusGepubliceerd - 1998
Evenement3rd Annual Symposium of the IEEE/LEOS Benelux Chapter, November 26, 1998, Ghent, Belgium - Ghent, België
Duur: 26 nov 199826 nov 1998

Congres

Congres3rd Annual Symposium of the IEEE/LEOS Benelux Chapter, November 26, 1998, Ghent, Belgium
LandBelgië
StadGhent
Periode26/11/9826/11/98
AnderProc. 3rd Annual Symposium of the IEEE/LEOS Benelux Chapter. INTEC, Gent, Belgium, 26 November 1998

Citeer dit