Quantitative nanoscopy : tackling sampling limitations in (S)TEM imaging of polymers and composites

K. Gnanasekaran, R.C.Q. Snel, G. With, de, H. Friedrich

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

9 Citaten (Scopus)
11 Downloads (Pure)

Uitrusting

Center for Multiscale Electron Microscopy (CMEM)

Heiner Friedrich (Manager), Rick Joosten (Gebruiker), Demi de Moor (Gebruiker), Pauline Schmit (Gebruiker), Ingeborg Schreur - Piet (Gebruiker), Anne Spoelstra (Gebruiker) & Nina Romme - van Moll (Inhoud)

Materials and Interface Chemistry

Uitrusting/faciliteit: Onderzoekslaboratorium