Vingerafdruk
Duik in de onderzoeksthema's van 'Processing induced defects in submicron active-passive areas for InP-based membranes on silicon (IMOS)'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.- Sorteer per
- Gewicht
- Alfabetische volgorde
Processing induced defects in submicron active-passive areas for InP-based membranes on silicon (IMOS)
R. Zhang, J.J.G.M. Tol, van der, P.J.A. Thijs, M.K. Smit
Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic
2
Downloads
(Pure)