Probability analysis for CMOS floating gate faults

H. Xue, C. Di, J.A.G. Jess

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

27 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelProc. European Design and Test Conference, ED&TC
Pagina's443-449
StatusGepubliceerd - 1994
Evenement1994 European Conference on Design Automation (EDAC)
- Paris, Frankrijk
Duur: 28 feb 19943 mrt 1994

Congres

Congres1994 European Conference on Design Automation (EDAC)
Land/RegioFrankrijk
StadParis
Periode28/02/943/03/94
AnderProc. European Design and Test Conference, ED&TC, Paris, France, 28 February 1994

Citeer dit