Preparation of ZrO2 on flat, conducting SiO2/Si(100) model supports by wet chemical techniques : X-ray photoelectron spectroscopy and Auger depth profiling

L.M. Eshelman, A.M. Jong, de, J.W. Niemantsverdriet

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

28 Citaten (Scopus)
147 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)201-209
TijdschriftCatalysis Letters
Volume10
Nummer van het tijdschrift3-4
DOI's
StatusGepubliceerd - 1991

Citeer dit