Originele taal-2 | Engels |
---|---|
Pagina's (van-tot) | iii-iv |
Tijdschrift | ECS Transactions |
Volume | 53 |
Nummer van het tijdschrift | 3 |
Status | Gepubliceerd - 21 okt. 2013 |
Evenement | International Symposium on Silicon Compatible Materials, Processes, and Technologies for Advanced Integrated Circuits and Emerging Applications 3 - 223rd ECS Meeting - Toronto, ON, Canada Duur: 12 mei 2013 → 17 mei 2013 |
Preface
F. Roozeboom, V. Narayanan, K. Kakushima, H. Iwai, D. L. Kwong, P. J. Timans, E. P. Gusev
Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Editorial › Academic › peer review