Pore structure characterization of mesi-SiO2 coatings on glass and silicon substrates by ellipsometric porosimetry

O. Muraza, E.V. Rebrov, M. Creatore, W. Keuning, W.M.M. Kessels, M.H.J.M. Croon, de, M.C.M. Sanden, van de, J.C. Schouten

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Originele taal-2Engels
TitelBook of Abstracts Netherlands' Catalysis and Chemistry Conference
Plaats van productieNetherlands, Noordwijkerhout
Pagina'sP104,-page 256
StatusGepubliceerd - 2007

Citeer dit