Particle morphology from XPS data : design and implementation of a quantification procedure for nanoscale metal particles

J.F.C.M. Reijerse, Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Fysische instrumentatie

Onderzoeksoutput: ScriptieEngD Thesis

Originele taal-2Engels
KwalificatieDoctor in de Filosofie
Toekennende instantie
Begeleider(s)/adviseur
  • Roosenbrand, A.G., Begeleider
  • Brongersma, H.H., Begeleider
Datum van toekenning1 jan. 1995
Plaats van publicatieEindhoven
Uitgever
Gedrukte ISBN's90-5282-619-6
StatusGepubliceerd - 1995

Bibliografische nota

Eindverslag

Citeer dit