Originele taal-2 | Engels |
---|---|
Kwalificatie | Doctor in de Filosofie |
Toekennende instantie | |
Begeleider(s)/adviseur |
|
Datum van toekenning | 1 jan. 1995 |
Plaats van publicatie | Eindhoven |
Uitgever | |
Gedrukte ISBN's | 90-5282-619-6 |
Status | Gepubliceerd - 1995 |
Particle morphology from XPS data : design and implementation of a quantification procedure for nanoscale metal particles
J.F.C.M. Reijerse, Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Fysische instrumentatie
Onderzoeksoutput: Scriptie › EngD Thesis