Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Particle characterization by angle-revolved MIE scattering using a novel derivative method

  • E. Stoffels - Adamowicz
  • , W.W. Stoffels
  • , G.H.P.M. Swinkels
  • , G.M.W. Kroesen

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)428-429
TijdschriftEurophysics Conference Abstracts
StatusGepubliceerd - 1998

Citeer dit