Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Oscillatory interlayer exchange coupling with the Cu cap layer thickness in Co/Cu/Co/Cu(100)

  • J.J. de Vries
  • , A.A.P. Schudelaro
  • , R. Jungblut
  • , P.J.H. Bloemen
  • , A. Reinders
  • , J. Kohlhepp
  • , R. Coehoorn
  • , W.J.M. de Jonge

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

3 Downloads (Pure)

Samenvatting

An oscillatory dependence of the strength of the antiferromagnetic exchange coupling on the cap layer thickness has been observed in an epitaxial Co/Cu/Co/Cu(100) sample with a wedge-shaped Cu interlayer and cap layer. The result is consistent with a single long oscillation period stemming from the extremal spanning vector of the Cu (cap layer) Fermi surface along the X line. The absence of a short period oscillation is understood from the confinement of the corresponding electron states to the spacer. A quantitative comparison with Bruno's model is made.

Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)4306-4309
Aantal pagina's4
TijdschriftPhysical Review Letters
Volume75
Nummer van het tijdschrift23
DOI's
StatusGepubliceerd - 1 jan. 1995

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Oscillatory interlayer exchange coupling with the Cu cap layer thickness in Co/Cu/Co/Cu(100)'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit